(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS CECC 00013:1985
Harmonized system of quality assessment for electronic components: basic specification: scanning electron microscope inspection of semiconductor dice
24 стр.
Отменен
Печатная копияПечатное издание
275.18 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры, 31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Approval testing|Non-destructive testing|Assessed quality|Semiconductor technology|Specification (approval)|Microscopic analysis|Integrated circuit technology|Electronic equipment and components|Semiconductor devices|Quality control|Quality assurance systems|Inspection|Specimen preparation|Semiconductors|Testing conditions|Test equipment|Statistical quality control|Electron microscopes|Sampling methods|Integrated circuits