(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-12:2002
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency
8 стр.
Заменен
Печатная копияПечатное издание
154.22 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Vibration testing, Semiconductor devices, Integrated circuits, Electronic equipment and components, Climate, Environmental testing, Mechanical testing, Destructive testing, Frequencies, Variable