(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-9:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Permanence of marking
12 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
154.22 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Environmental testing, Climate, Permanent, Mechanical testing, Integrated circuits, Semiconductor devices, Solvent-resistance tests, Marking, Non-destructive testing, Chemical-resistance tests, Electronic equipment and components