(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 62047-26:2016
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Description and measurement methods for micro trench and needle structures
32 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
299.38 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
Ключевые слова:
Thin films, Semiconductor devices, Test equipment, Electronic equipment and components, Test specimens, Integrated circuits, Tensile testing, Semiconductor technology, Electromechanical devices