Вход
Логин:
Пароль:
Запомнить меня
Отменить
Восстановление пароля
(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
Обозначение
Наименование
Действующие
Расширенный поиск
Запросить
стандарт
ФИО:
Организация:
Должность:
Город, адрес:
Телефон:
E-mail:
Откуда вы о нас узнали:
Запрос информации:
This site is protected by reCAPTCHA and the Google
Privacy Policy
and
Terms of Service
apply.
О компании
Каталог продукции
API
ARINC
ASME
ASNT
ASTM
AWS
AWWA
BSI
DIN
IEC
ISO
MSS
NACE
NFPA
ONORM
SAE
SSPC
Контакты
BS EN 62418:2010
Semiconductor devices. Metallization stress void test
18 стр.
Действует
Печатная копия
Печатное издание
Англ.:
184.46£
184.46 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Aluminium, Diffusion, Stress, Electrical measurement, Copper, Metals, Surfaces, Semiconductor devices, Electronic equipment and components, Visual inspection (testing), Semiconductors
На это издание ссылаются:
© 2024 ООО «Нормдокс»
Карта сайта
www.normdocs.ru
тел.: (812) 309-78-59 (многоканальный)
тел.: (495) 223-46-76 (прямой московский номер)