(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 62418:2010
Semiconductor devices. Metallization stress void test
18 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
184.46 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Aluminium, Diffusion, Stress, Electrical measurement, Copper, Metals, Surfaces, Semiconductor devices, Electronic equipment and components, Visual inspection (testing), Semiconductors