(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 60749-5:2003-09
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003); German version EN 60749-5:2003
������� �����������������. ������ ������������ � ������������� ���������. ����� 5. ��������� �� ������������� ��� �������� ��������������� ��������� �� ����������� � ���������
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pr?fverfahren - Teil 5: Lebensdauerpr?fung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2003); Deutsche Fassung EN 60749-5:2003
10 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
95.66 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом