(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 60749-34:2004-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2004); German version EN 60749-34:2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34. Маневренный режим мощности
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung (IEC 60749-34:2004); Deutsche Fassung EN 60749-34:2004
11 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
119.41 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом