(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 62047-29:2016-08
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 29: Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature (IEC 47F/243/CD:2016)
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 29: Elektromechanisches Relaxations-Prüfverfahren für freistehende elektrisch leitende Dünnschichten bei Raumtemperatur (IEC 47F/243/CD:2016)
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
119.41 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN