Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 47/2311/CDV:2016); German version prEN 60749-5:2016
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pr?fverfahren - Teil 5: Lebensdauerpr?fung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 47/2311/CDV:2016); Deutsche Fassung prEN 60749-5:2016