(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50433-3:1982-04
Testing of materials for semiconductor technology; determination of the orientation of single crystals by means of Laue back scattering
Материалы для полупроводниковой технологии. Определение ориентации монокристаллов методом обратного рассеяния Laue
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Orientierung von Einkristallen mittels Laue-Rückstrahlverfahren
8 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
83.05 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы