(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50435:1988-05
Testing of semiconductor materials; determination of the radial resistivity variation of silicon or germanium slices by means of the four-probe/direct current method
Кремний и германий. Определение радиального изменения удельного электрического сопротивления кремниевых и германиевых дисков методом постоянного тока и четырех зондов
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der radialen Variation des spezifischen elektrischen Widerstandes an Silicium- oder Germanium-Scheiben mit dem Vier-Sonden-Gleichstromverfahren
3 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
73.38 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы