(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 62047-17:2011-06
Semiconductor devices - Micro- electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin film (IEC 47F/78/CD:2011)
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 17: Wölbungs-Prüfverfahren zur Bestimmung mechanischer Eigenschaften dünner Schichten (IEC 47F/78/CD:2011)
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
190.01 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN