(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50454-1:1991-11
Testing of materials for semiconductor technology; determination of the dislocations etch pits density in monocrystals of III-V-compound semiconductors; galliumarsenide
Монокристаллы арсенида галлия 3-5- сложных полупроводников. Определение дислокационной ямки травления
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Versetzungsätzgrubendichte in Einkristallen von III-V-Verbindungshalbleitern; Galliumarsenid
4 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
58.64 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы