(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 62047-22:2015-04
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 62047-22:2014); German version EN 62047-22:2014
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 22. Метод испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких подложках
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten (IEC 62047-22:2014); Deutsche Fassung EN 62047-22:2014
11 стр.
Действует
Электронный (pdf)Печатная копияПечатное издание
131.53 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
31.220.01 Electromechanical components in general / Электромеханические компоненты в целом, 31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом