(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 60749-3:2003-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002); German version EN 60749-3:2002
������� �����������������. ������ ������������ � ������������� ���������. ����� 3. ������� ���������� ������
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pr?fverfahren - Teil 3: ?u?ere Sichtpr?fung (IEC 60749-3:2002); Deutsche Fassung EN 60749-3:2002
5 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
58.64 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом