(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50431:1980-09
Testing of semi-conducting inorganic materials; measurement of the electrical resistivity of silicon or germanium single crystals by means of the four-point-probe direct current method with collinear four probe array
Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes von Einkristallen aus Silicium oder Germanium mit dem Vier-Sonden-Gleichstrom-Verfahren bei linearer Anordnung der Sonden
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Зарубежные/DIN