Testing of semi-conducting inorganic materials; measurement of the electrical resistivity of silicon or germanium single crystals by means of the four-point-probe direct current method with collinear four probe array
Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes von Einkristallen aus Silicium oder Germanium mit dem Vier-Sonden-Gleichstrom-Verfahren bei linearer Anordnung der Sonden