(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50443-2:1994-06
Testing of materials for semiconductor technology; recognition of defects and inhomogeneities in semiconductor single crystals by X-ray topography; III-V-semiconductor compounds
Полупроводники сложные Ш-V. Определение дефектов и неоднородности монокристаллов с помощью рентгенографии
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Nachweis von Kristalldefekten und Inhomogenitäten in Halbleiter-Einkristallen mittels Röntgentopographie; III-V-Verbindungshalbleiter
7 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
104.17 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы