Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 47/2017/CDV:2009); German version EN 60749-23:2004/FprA1:2009
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 47/2017/CDV:2009); Deutsche Fassung EN 60749-23:2004/FprA1:2009