(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 60749-23/A1:2009-09
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 47/2017/CDV:2009); German version EN 60749-23:2004/FprA1:2009
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 47/2017/CDV:2009); Deutsche Fassung EN 60749-23:2004/FprA1:2009
Отменен
Печатная копияЭлектронный (pdf)Печатное издание
71.26 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN