(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50442-1:1981-02
Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of the surface structure of circular monocrystalline semi-conductive slices; as-cut and lapped slices
Пластины полупроводниковые монокристаллические, распиленные и подвергнутые доводке. Определение структуры поверхности
Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Bestimmung der Oberflächenstruktur kreisförmiger, einkristalliner Halbleiterscheiben; Gesägte und geläppte Scheiben
3 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
58.64 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы