(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 4771:1977-04
Measurement of the profile height P<(Index)t> of surfaces
Шероховатость поверхности. Измерение глубины профиля
Messung der Profiltiefe P<(Index)t> von Oberflächen
2 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
73.38 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
17.040.20 Properties of surfaces / Свойства поверхностей