(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 62047-22:2012-11
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 47F/128/CD:2012)
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten (IEC 47F/128/CD:2012)
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
107.62 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN