DIN EN 60749:2001-09
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000); German version EN 60749:1999 + A1:2000
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996 + A1:2000); Deutsche Fassung EN 60749:1999 + A1:2000
61 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
238.66 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Взамен:
Заменен на:
Ссылочные документы:
DIN EN 60068-2-7:1995-03DIN EN 60068-2-11:2000-02DIN EN 60068-2-13:2000-02DIN EN 60068-2-14:2000-08DIN EN 60068-2-17:1995-05DIN EN 60068-2-21:1999-10DIN EN 60068-2-45:1994-02DIN EN 60068-2-47:2000-08DIN EN 60068-2-48:2000-09DIN EN 60695-2-2:1996-09DIN IEC 60068 Beiblatt 10:1985-08DIN IEC 60068-2-3:1986-12DIN EN 60068-1:1995-03DIN EN 60068-2-6:1996-05DIN IEC 60747-1:1987-03DIN IEC 60748-1:1988-01DIN IEC 60068-1:1990-11DIN IEC 60068-2-6:1990-06DIN IEC 60068-2-7:1990-04DIN IEC 60068-2-11:1982-08DIN IEC 60068-2-13:1985-08DIN IEC 60068-2-14:1987-06DIN IEC 60068-2-17:1991-03DIN IEC 60068-2-20:1991-04DIN IEC 60068-2-21:1985-08DIN IEC 60068-2-45:1981-10DIN IEC 60068-2-47:1985-06DIN IEC 60068-2-48:1984-02IEC/TR 60653:1979IEC 60695-2-2:1991-04DIN IEC 60747-11:1992-04
На это издание ссылаются:
© 2024 ООО «Нормдокс»
тел.: (812) 309-78-59 (многоканальный)
тел.: (495) 223-46-76 (прямой московский номер)
тел.: (495) 223-46-76 (прямой московский номер)