(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 60749-10:2003-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002); German version EN 60749-10:2002
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 10. Механический удар
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanisches Schocken (IEC 60749-10:2002); Deutsche Fassung EN 60749-10:2002
7 стр.
Действует
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
71.26 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом