(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50456-2:1995-04
Testing of materials for semiconductor technology - Method for the characterisation of moulding compounds for electronic components - Part 2: Determination of ionic impurities using pressure cooker test
Массы прессовочные на основе эпоксидной смолы для электронных компонентов. Определение содержания ионных загрязнений с помощью методов экстракции под давлением
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Umhüllungspressmassen für elektronische Bauelemente - Teil 2: Bestimmung ionischer Verunreinigungen mittels Druckextraktions-Verfahren
2 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
73.38 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы