Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency (IEC 47/2386/CDV:2017); German version prEN 60749-12:2017
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 12: Schwingen, variable Frequenz (IEC 47/2386/CDV:2017); Deutsche Fassung prEN 60749-12:2017