(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 60749:2002-09
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001); German version EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001
Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001); Deutsche Fassung EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001
74 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
276.17 € (включая НДС 20%)