(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50441-1:1996-07
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 1: Thickness and thickness variation
Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров. Часть 1. Толщина и ее изменение
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Messung der geometrischen Dimensionen von Halbleiterscheiben - Teil 1: Dicke und Dickenvariation
4 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
73.38 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы