Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 60749-7:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
— 0 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Modification of the validity date: now put at 2007.
Заменен на
IEC 60749-7:2011 ed2.0
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
