(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC 60749:1996/AMD2:2001 ed2.0
Amendment 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
63 стр.
Заменен
Электронный (pdf)Печатная копия
384.94 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом