(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC 61445:2012 ed1.0
Digital Test Interchange Format (DTIF)
101 стр.
Действует
Электронный (pdf)Печатная копия
524.16 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
35.060 Languages used in information technology / Языки, используемые в информационных технологиях25.040.01 Industrial automation systems in general / Промышленные автоматизированные системы в целом
Описание
IEC 61445:2012(E) defines the information content and the data formats for the interchange of digital test program data between DATPGs and automatic test equipment (ATE) for board-level printed circuit assemblies. This information can be broadly grouped into data that defines the following:
a) UUT Model;
b) Stimulus and Response;
c) Fault Dictionary;
d) Probe.