Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 62373:2006 ed1.0

Действует
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) — 27 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
ICS
31.080.30 Transistors / Транзисторы