(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC PAS 62178:2000 ed1.0
Temperature cycling
6 стр.
Заменен
Печатная копияЭлектронный (pdf)
32.76 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Описание
This test is conducted to determine the resistance of a part to extremes of high- and low-temperatures and to the effect of alternate exposures to these extremes.