(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC PAS 62185:2000 ed1.0
Thermal shock test method
7 стр.
Заменен
Электронный (pdf)Печатная копия
32.76 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Описание
This test is conducted to determine the resistance of a part to sudden exposure to extreme changes in temperature and to the effect of alternate exposures to these extremes.