(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ISO 12406:2010
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of arsenic in silicon
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с вторичным ионом. Метод профилирования глубины местонахождения мышьяка в кремнии
20 стр.
Действует
Электронный (pdf)
110.88 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ISO
ICS:
71.040.40 Chemical. Including analysis of gases and surface chemical analysis / Химический анализ. Включая анализ газов