(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ISO 19830:2015
Surface chemical analysis -- Electron spectroscopies -- Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy
Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчету результатов подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
30 стр.
Действует
Электронный (pdf)
148.68 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ISO
ICS:
71.040.40 Chemical. Including analysis of gases and surface chemical analysis / Химический анализ. Включая анализ газов