(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ÖVE/ÖNORM EN 62047-6:2010-08
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials (IEC 62047-6:2009) (english version)
Действует
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Разработчик:
Зарубежные/ON
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
Ключевые слова:
Elektrotechnik, Halbleiterbauelement, Halbleiter, Bauelement, Mikrosystemtechnik, Systemtechnik, Prüfverfahren, Dauerschwingfestigkeit, Dünnschicht, Dünnschichttechnik, Werkstoff, Begriffe, Terminologie, Ermüdung, Mikroelektronik, Probe, Prüfeinrichtung, Prüfung, Prüfbericht, Informationstechnik, Telekommunikation, Elektronik, Schwingfestigkeitsdauer, Anhang, Grundlage, Technik, Literaturhinweis