(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ÖVE/ÖNORM EN 62276:2013-10
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (IEC 62276:2012) (english version)
Заменен
Печатная копияПечатное издание
285.84 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ON
ICS:
31.140 Piezoelectric devices / Пьезоэлектрические и диэлектрические приборы
Ключевые слова:
Elektrotechnik,Oberflächenwelle,Bauelement,Messverfahren,Begriffe,Terminologie,Einkristall,elektronisches Bauelement,Kristallgitter,Messung,Prüfverfahren,Quarzkristall,Informationstechnik,Telekommunikation,Elektronik,Inspektion,Anhang,Beispiel,Welle,Definition,Kristall,Abbildung,Wafer,Material,Diameter,Probe,Prüfung,Identifikation,Verpackung,Schema,Temperatur,Detektor,Kollimator,Ratemeter,Elektrode,Widerstand,Leistung