(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
SAE J1752/2
Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits—Surface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz
Заменен
Печатная копияПечатное изданиеЭлектронный (pdf)
149.40 $ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/Группа SAE/SAE
Тематика:
Electrical systems, Electromagnetic compatibility, Integrated circuits, Tests and Testing
Описание