(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 62215-3:2013
Integrated circuits. Measurement of impulse immunity. Non-synchronous transient injection method
36 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
299.38 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры
Ключевые слова:
Integrated circuits, Semiconductors, Electronic equipment and components, Electromagnetic compatibility, Impulse voltages, Impulse-voltage tests, Transient voltages, Electrical measurement, Test equipment