(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50441-5:2001-04
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 5: Terms of shape and flatness deviation
Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров.Часть 5. Термины, касающиеся отклонения от формы и плоскостности
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Messung der geometrischen Dimensionen von Halbleiterscheiben - Teil 5: Begriffe zur Gestalts- und Ebenheitsabweichung
11 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
95.66 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
01.040.29 Electrical engineering (Vocabularies) / Электротехника (Словари)29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы