(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50434:1986-02
Testing of materials for semiconductor technology; detection of crystal defects in monocrystalline silicon using etching techniques on {111} and {100} surfaces
Материалы для полупроводниковой технологии. Определение дефектов монокристаллов кремния при помощи техники травления на поверхности (111) и (100)
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Nachweis von Kristalldefekten in Silicium-Einkristallen mittels Ätztechnik an {111}- und {100}-Flächen
9 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
119.74 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы