(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50441-4:1987-07
Testing of materials for semiconductor technology; measurement of the geometric dimensions of semiconductor slices; diameter and flat depth of slices
Диски полупроводниковые. Измерение диаметра и толщины
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Messung der geometrischen Dimensionen von Halbleiterscheiben; Scheibendurchmesser und Flattiefe
4 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
58.64 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы