(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50436:1976-10
Testing of semi-conducting inorganic materials - Measurement of the metalurgic thickness of epitaxial layers of silicon by the stacking fault method
Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe - Messung der metallurgischen Dicke von Silicium-Epitaxieschichten nach der Stapelfehlermethode
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
41.28 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN