(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50441-2:1982-04
Testing of materials for semiconductor technology; measurement of the geometric dimensions of semiconductor slices; testing of edge rounding
Диски полупроводниковые. Определение закругления кромки
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Messung der geometrischen Dimensionen von Halbleiterscheiben; Prüfung der Kantenverrundung
2 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
58.64 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы