Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
13 стр.
Заменен
Электронный (pdf)Печатная копия
32.76 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Описание
Provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.