(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC 61967-6:2002/COR1:2010 ed1.0
Corrigendum 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
0 стр.
Действует
Электронный (pdf)Печатная копия
0.00 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры