(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC 62415:2010 ed1.0
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
22 стр.
Действует
Электронный (pdf)Печатная копия
65.52 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Описание
IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.