(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
IEC PAS 62336:2002 ed1.0
Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST
8 стр.
Заменен
Электронный (pdf)Печатная копия
32.76 CHF (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/IEC
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Описание
Used to identify failure mechanisms internal to packages, the unbiased HAST aims at evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.