Стандарты DIN ICS 31 Electronics / Электроника 31.080 Semiconductor devices / Полупроводниковые приборы 31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом

DIN EN 62047-3:2007-02

Действует

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile-testing (IEC 62047-3:2006); German version EN 62047-3:2006 — 9 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии