Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDINICS31 Electronics / Электроника31.080 Semiconductor devices / Полупроводниковые приборы31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом

DIN EN IEC 60749-18:2020-02

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2019); German version EN IEC 60749-18:2019 — 25 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

DIN EN 60749-18:2003-09
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2002); German version EN 60749-18:2003 — 15 стр.
DIN EN 60749-18:2018-10
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 47/2468/CDV:2018); German and English version prEN 60749-18:2018

На этот документ ссылаются

DIN EN 60749-18:2003-09
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2002); German version EN 60749-18:2003 — 15 стр.